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Metrologia

計(jì)量學(xué)
國(guó)際簡(jiǎn)稱:METROLOGIA

Metrologia

SCIE

按雜志級(jí)別劃分: 中科院1區(qū) 中科院2區(qū) 中科院3區(qū) 中科院4區(qū)

  • 3區(qū) 中科院分區(qū)
  • Q2 JCR分區(qū)
  • 82 年發(fā)文量
  • 96.34% 研究類文章占比
  • 44.49% Gold OA文章占比
ISSN:0026-1394
創(chuàng)刊時(shí)間:1965
是否預(yù)警:否
E-ISSN:1681-7575
出版地區(qū):FRANCE
是否OA:未開放
出版語(yǔ)言:English
出版周期:Bimonthly
影響因子:2.1
出版商:IOP Publishing Ltd.
審稿周期: 偏慢,4-8周
CiteScore:2.8
H-index:67
出版國(guó)人文章占比:0.06
開源占比:0.3262
文章自引率:0.25

Metrologia雜志簡(jiǎn)介

Metrologia是由IOP Publishing Ltd.出版商主辦的工程技術(shù)領(lǐng)域的專業(yè)學(xué)術(shù)期刊,自1965年創(chuàng)刊以來(lái),一直以高質(zhì)量的內(nèi)容贏得業(yè)界的尊重。該期刊擁有正式的刊號(hào)(ISSN:0026-1394,E-ISSN:1681-7575),出版周期Bimonthly,其出版地區(qū)設(shè)在FRANCE。該期刊的核心使命旨在推動(dòng)工程技術(shù)專業(yè)及INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION學(xué)科界的教育研究與實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)的交流,發(fā)表同行有創(chuàng)見的學(xué)術(shù)論文,提倡學(xué)術(shù)爭(zhēng)鳴,激發(fā)學(xué)術(shù)創(chuàng)新,開展國(guó)際間學(xué)術(shù)交流,為工程技術(shù)領(lǐng)域的發(fā)展注入活力。

該期刊文章自引率0.25,開源內(nèi)容占比0.3262,出版撤稿占比0,OA被引用占比0.4136...,讀者群體主要包括工程技術(shù)的專業(yè)人員,研究生、本科生以及工程技術(shù)領(lǐng)域愛好者,這些讀者群體來(lái)自全球各地,具有廣泛的學(xué)術(shù)背景和興趣。Metrologia已被國(guó)際權(quán)威學(xué)術(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)“ SCIE(Science Citation Index Expanded) ”收錄,方便全球范圍內(nèi)的學(xué)者和研究人員檢索和引用,有助于推動(dòng)INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION領(lǐng)域的研究進(jìn)展和創(chuàng)新發(fā)展。

CiteScore(2024年最新版)

  • CiteScore:2.8
  • SJR:0.417
  • SNIP:0.969
學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:General Engineering Q2 128 / 307

58%

CiteScore: 這一創(chuàng)新指標(biāo)力求提供更為全面且精確的期刊評(píng)估,打破了過去僅依賴單一指標(biāo)如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數(shù)據(jù),跨越多個(gè)學(xué)科領(lǐng)域,從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標(biāo)的重要組成部分,包括SNIP(源文檔標(biāo)準(zhǔn)化影響)、SJR(SCImago雜志排名)、引用文檔計(jì)數(shù)以及引用百分比。Scopus整合以上指標(biāo),幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個(gè)指標(biāo)的詳細(xì)信息。

CiteScore分區(qū)值與影響因子值數(shù)據(jù)對(duì)比

Metrologia中科院分區(qū)表

中科院分區(qū) 2023年12月升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 3區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 2區(qū) 3區(qū)
中科院分區(qū) 2022年12月升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 3區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 3區(qū) 3區(qū)
中科院分區(qū) 2021年12月舊的升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 3區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 3區(qū) 3區(qū)
中科院分區(qū) 2021年12月基礎(chǔ)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 3區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 3區(qū) 3區(qū)
中科院分區(qū) 2021年12月升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 3區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 3區(qū) 3區(qū)
中科院分區(qū) 2020年12月舊的升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 2區(qū) 2區(qū)
中科院分區(qū)表歷年分布趨勢(shì)圖

WOS期刊JCR分區(qū)(2023-2024年最新版)

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 38 / 76

50.7%

學(xué)科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q3 109 / 179

39.4%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q3 46 / 76

40.13%

學(xué)科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q3 106 / 179

41.06%

JCR(Journal Citation Reports)分區(qū),也被稱為JCR期刊分區(qū),是由湯森路透公司(現(xiàn)在屬于科睿唯安公司)制定的一種國(guó)際通用和公認(rèn)的期刊分區(qū)標(biāo)準(zhǔn)。JCR分區(qū)基于SCI數(shù)據(jù)庫(kù),按照期刊的影響因子進(jìn)行排序,按照類似等分的方式將期刊劃分為四個(gè)區(qū):Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是,JCR分區(qū)的標(biāo)準(zhǔn)與中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))存在不同之處。例如,兩者的分區(qū)數(shù)量不同,JCR分為四個(gè)區(qū),而中科院分區(qū)則分為176個(gè)學(xué)科,每個(gè)學(xué)科又按照影響因子高低分為四個(gè)區(qū)。此外,兩者的影響因子取值范圍也存在差異。

歷年發(fā)文數(shù)據(jù)

年份 年發(fā)文量
2014 107
2015 128
2016 108
2017 100
2018 179
2019 97
2020 111
2021 92
2022 80
2023 82

期刊互引關(guān)系

被他刊引用情況
期刊名稱 引用次數(shù)
METROLOGIA 554
ANN PHYS-BERLIN 188
IEEE T INSTRUM MEAS 167
CR PHYS 150
MEASUREMENT 133
MEAS SCI TECHNOL 108
RIV NUOVO CIMENTO 78
REV SCI INSTRUM 76
OPT EXPRESS 67
PHYS REV A 65
引用他刊情況
期刊名稱 引用次數(shù)
METROLOGIA 554
PHYS REV LETT 114
ANAL CHEM 91
PHYS REV A 81
ANAL BIOANAL CHEM 66
MEAS SCI TECHNOL 59
J ANAL ATOM SPECTROM 53
ACCREDIT QUAL ASSUR 50
OPT EXPRESS 45
REV SCI INSTRUM 44
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